Полезное

Рекомендуем
Интересное

Режим дифракции

Режим дифракцииДля получения резких темнопольных снимков необходимо вывести на оптическую ось микроскопа, т. е. на место первичного пучка, заданный рефлекс, для чего в микроскопе JEM-7A используют специальную приставку для электромагнитного отклонения пучка. Одновременно наклонять всю осветительную систему относительно объективной линзы. Далее Следует поставить апертурную диафрагму на выведенный в центр рефлекс и перейти из режима дифракции к изображению.

При тщательном выведении на оптическую ось нужного рефлекса можно получать темнопольные микрофотографии, соответствующие предельному разрешению микроскопа, но с большей контрастностью, чем соответствующие светлопольные изображения. Поэтому методика темного поля оказывается очень полезной при исследовании формы, размера и распределения частиц второй фазы, при анализе тонкой структуры и т. д. Кроме того, методику темного поля можно использовать для индицирования микроэлектронограмм (при наличии нескольких фаз).

Для электронов длина волны очень мала и радиус сферы отражения велик, поэтому участок сферы отражения в масштабе электронограммы, ограниченный ее размерами, является почти плоским. Если этот участок совместить с какой-либо из плоскостей обратной решетки, то на электронограмме выявятся все принадлежащие этой плоскости узлы. Таким образом, точечную электронограмму можно рассматривать как плоское сечение обратной решетки, для которого падающий пучок нормален и направлен вдоль оси зоны, а возникающие при этом дифракционные пятна удовлетворяют условию закона зон.

Наиболее удобным методом индицирования электронограмм от монокристаллов с известной структурой представляется построение модели обратной решетки исследуемого вещества, содержащей только дозволенные структурным фактором отражения. Сопоставляя различные плоские сечения модели с электронограммой, можно найти нужное сечение и сразу получить индексы отражений, если узлы модели предварительно проиндицированы. С помощью набора сечений обратной решетки в масштабе электронопраммы при наличии некоторого опыта простые сечения удается индицировать при визуальном осмотре. Этот метод значительно упрощает расшифровку электронограмм от кристаллов, содержащих выделения второй фазы с известной элементарной ячейкой.