Полезное

Рекомендуем
Интересное

Применение рентгеноструктурных методов

Применение рентгеноструктурных методовОднако в других случаях методом микродифракции электронов не удается или очень трудно решить задачу кристаллоструктурного исследования: /например, при больших размерах частиц, оказывающихся непрозрачными для электронов, или, наоборот, при очень малых их размерах, когда интенсивность отражения весьма мала, а также при необходимости идентификации и разделения фаз с близкими параметрами однотипных решеток. Применение рентгеноструктурных методов исследования оказывается в таких случаях более успешным, если имеется возможность сконцентрировать анализируемые частицы в осадке и т. п. Наиболее благоприятные возможности для кристаллоструктурного анализа дает сочетание методов электронной и рентгеновской дифракции.

Контраст на электронномикроскопичеоком изображении тонкой металлической фольги имеет главным образом дифракционную природу. Это означает, что различные локальные участки фольги, находящиеся в неодинаковых условиях отражения (вследствие наличия разных структурных несовершенств, разориентировки и так далее), т. е. в неодинаковой степени приближения к условиям Вульфа — Брегга для каких-либо кристаллографических плоскостей, выглядят на изображении более темными или более светлыми.

Поскольку контраст на электронномикроскопическом изображении тесно связан с выполнением тех или иных дифракционных условий, то естественно, что для правильного и точного анализа наблюдаемых картин необходима возможность изменения этих условий. Поэтому современные электронные микроскопы снабжены гониометрическими столиками, позволяющими наклонять объект относительно падающего пучка электронов на тот или иной угол (в микроскопе JEM-7A на ±Ю° от горизонта) и выводить нужную систему плоскостей в отражающее положение.

Кроме обычных светлопольных изображений, формируемых неотклоненным пучком, можно получить темиопольные, формируемые каким-либо одним дифрагированным пучкам.